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Raster-Kraft-Mikroskopie
AFM
Das Institut für Physikalische Chemie hat seit 2022 ein Raster-Kraft-Mikroskop des Typs "Park Systems NX12". Damit können vielfältige Abbildungen (meist Topographie), Untersuchungen und Messungen an Oberflächen durchgeführt werden. Es verfügt über alle üblichen Messmodi (Contact-Mode, Intermittent-/"Tapping"-Mode und Non-Contact-Mode). Außerdem sind u.a. der Kelvin-Probe- und der Piezo-Force-Mode verfügbar. Semiquantitative nanomechanische Charakterisierungen sind ebenfalls möglich.
Durch getrennte Aktuatoren für die (laterale) x,y- und die (vertikale) z-Bewegung sind auch Proben mit starker Höhenstrukturierung bei großer Scangeschwindigkeit messbar.
Neben den Forschungsprojekten des IPC steht das Gerät für Service-Messungen zur Verfügung (Kontakt: arne.langhoff@tu-clausthal.de).
Probengröße: (typischerweise) bis 5 cm x 5 cm x 1 cm (größere Proben u.U. nach Absprache)
max. Weg des z-Scanners: 15 µm
Bildgröße: bis 90 µm x 90 µm mit max. 4096 x 4096 pixel Auflösung
Scangeschwindigkeit (typischerweise) bis 60 µm/s
